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超細(xì)二氧化硅的光學(xué)性質(zhì)超細(xì)二氧化硅作為納米粉體，其小尺寸效應(yīng)和表面界面效應(yīng)使得其具有與常規(guī)材料不同的光學(xué)特性。 利用分光光譜儀對納米SiO2進(jìn)行測試，可知其對波長200～280nm紫外光短波段，反射率為70%～80%；對波長280～300nm的紫外中波段，反射率為80%以上； 在波長300～800nm之間，超細(xì)二氧化硅材料的光反射率達(dá)85%；對波長在800～1300nm的近紅外光反射率也達(dá)70～80%。 超細(xì)二氧化硅的小尺寸效應(yīng)和宏觀量子隧道效應(yīng)使其產(chǎn)生淤滲作用，可深入到高分子鏈的不飽和鍵附近，并和不飽和鍵的電子云發(fā)生作用，改善高分子材料的熱、光穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性，從而提高產(chǎn)品的抗老化性和耐化學(xué)性。而且其不但具有粒徑小、化學(xué)純度高、分散性好等特異性優(yōu)勢。還具有吸附性強、可塑性良好、同時具有高磁阻性和低熱導(dǎo)性的優(yōu)勢。 |
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